在實驗室VOC手工監(jiān)測實驗中，校準曲線屬于實驗室質量控制的范圍，一個好的校準曲線不但可以對目標物質進行BCT的定性定量，而且能評價稀釋系統、濃縮系統、分析系統等是否正常。校準曲線在繪制過程中經常會遇到各種各樣的問題，北京博賽德應用工程依據多年經驗總結出這份-校準曲線繪制避坑指南，對常見問題進行總結，分析可能的原因并提出有效的解決措施。

VOC手工監(jiān)測-校準曲線繪制避坑指南 (中)，我們總結了兩個常見問題，今天我們繼續(xù)探討校準曲線的另外兩個問題：

3、曲線負截距

a. 若所有物質的校準曲線均出現負截距情況，可能是低濃度點的進樣體積小，導致體積計量不準，可以采用低、高兩個濃度標氣來繪制校準曲線，避免小體積進樣。也可能是系統漏氣，需要對系統進行檢漏。

b. 若部分物質（如高沸點物質等）校準曲線出現負截距，可能是整個系統對目標物有吸附，可初步排查以下環(huán)節(jié)：（1）確保系統與樣品接觸的部分均經過惰性涂覆，且有惰性測試報告；（2）清洗離子源，確保質譜離子源干凈；（3）確保捕集阱溫度傳感器經過校準，儀器方法設置合理。若初步排查沒有問題，表明預濃縮系統或采樣罐被顆粒物污染，當顆粒物進入采樣罐或分析系統時，會對部分目標物有一定吸附，影響測試結果。可排查以下環(huán)節(jié)：

（1）提高預濃縮系統的烘烤溫度，延長烘烤時間，根據色譜柱的內徑調大柱流速，同時打開分流閥和進樣閥，判斷預濃縮系統是否被污染；（4）用高純氮氣對樣品管線進行吹掃或用甲醇清洗，判斷樣品管線是否被污染；（5）若以上環(huán)節(jié)均沒有問題，需要對M1、M2、M3進行逐一排查，判斷三個冷阱是否被污染，若被污染需要進行更換。

當系統出現顆粒物污染時，解決措施比較復雜，耗費人力物力。因此在用采樣罐采集環(huán)境空氣樣品時需要加裝顆粒過濾裝置，避免顆粒物進入采樣罐進而污染分析系統；在日常使用時，定期檢查過濾裝置是否堵塞，定期清洗或更換過濾器，這也可以減少顆粒物對采集的樣品產生負面影響的可能性。

4、兩罐標氣繪制校準曲線的問題

使用兩罐標氣繪制校準曲線可以避免小體積進樣時體積計量不準，有利于發(fā)現標氣配制或保存環(huán)節(jié)出現的問題以及系統中存在的吸附或殘留等問題。不過使用兩罐標氣繪制校準曲線會出現新的問題，比如每罐標氣各自濃度點的線性很好，但校準曲線總體線性不好，并出現正截距或負截距現象。

a. 若出現正截距情況，可能是低濃度標氣罐沒有清洗干凈，罐中有目標物殘留，可以重新清洗標氣罐、增加清洗循環(huán)次數，并在日常清洗完成后進行罐清洗BCT抽查；也可能是在配氣、分析過程中引入了實驗室空氣，需要在配氣和分析前注意：配氣前先用高純氮氣吹掃管路，分析前先不要打開標氣罐閥門，用預濃縮系統對管路抽真空后再打開閥門。

b. 若出現負截距情況，可能是低濃度標氣罐被顆粒物污染或惰性涂層被破壞，導致目標物在罐中被吸附。在日常測試時要專罐BCT，避免標氣罐與采樣罐混用，并且在罐子沒有連接儀器時要及時蓋上密封帽，避免顆粒物通過閥門進入罐子；此外，還需定期對在用罐子進行惰性檢查，BCT在用罐子每3年少被檢查1次。

影響校準曲線的因素眾多，涉及標氣罐、清洗、配氣、預濃縮、分析等環(huán)節(jié)的方方面面；校準曲線出現的問題也不盡相同，正截距還是負截距，所有物質還是部分性質相同的物質等等。

校準曲線繪制避坑指南分享就此完結，本文總結的現象、問題、原因、解決方法可能有所遺漏，歡迎大家留言一起討論！